Wzorcowanie aparatury pomiarowej

Nowoczesne podejście do współczesnej metrologii zaktualizowało się w najnowszym wydaniu popularnego poradnika. Publikacja ta kładzie nacisk na nowoczesne wzorce podstawowych jednostek miar, precyzyjne wzorce pomiarowe oraz badania zapewniające jednolitość miar. Książka wyjaśnia kluczowe pojęcia metrologii i omawia procesy, które gwarantują spójność miar, takie jak wzorcowanie przyrządów pomiarowych oraz badania aparatury. Zawartość obejmuje tworzenie schematów kontrolnych dla wzorców i narzędzi pomiarowych, a także opisuje, jak radzić sobie z niepewnością pomiarów i jak wyznaczać te niepewności. Czytelnik znajdzie tu również informacje o wstępnym opracowaniu wyników kalibracji oraz procedurach oceny charakterystyk różnorodnych błędów. Istotna część książki poświęcona jest analizie metod pomiarowych, badaniom międzylaboratoryjnym oraz komputeryzacji procedur kalibracji, co ułatwia działanie laboratorium.W książce znajdziemy również wskazówki dotyczące weryfikacji metod badania oraz wzorcowania, jak i informacje na temat roli laboratoriów akredytowanych. Poruszono także kwestie prawnej kontroli metrologicznej i oceny zgodności, prezentując jako przykład księgę jakości spełniającą normę PN-EN ISO/IEC 17025:2005. W porównaniu z wcześniejszym wydaniem, wielu rozdziałom nadano nowe brzmienie, uwzględniając najnowsze osiągnięcia w polu kwantowego systemu SI oraz nowe kierunki dotyczące kwantowych etalonów.Aktualizacje przepisów prawnych oraz norm były znaczące, zwłaszcza w kontekście badania biegłości laboratoriów wzorcujących, które podlegają obecnie bardziej restrykcyjnym regulacjom. Publikacja została przygotowana z myślą o studentach kierunków związanych z fizyką, chemią oraz politechnik, a także o pracownikach naukowych i inżynierach zajmujących się projektowaniem i stosowaniem aparatury pomiarowej w różnych dziedzinach nauki i technologii.