Wzorcowanie aparatury pomiarowej

Nowoczesne podejście do współczesnej metrologii zaktualizowało się w najnowszym wydaniu popularnego poradnika. Publikacja ta kładzie nacisk na nowoczesne wzorce podstawowych jednostek miar, precyzyjne wzorce pomiarowe oraz badania zapewniające jednolitość miar. Książka wyjaśnia kluczowe pojęcia metrologii i omawia procesy, które gwarantują spójność miar, takie jak wzorcowanie przyrządów pomiarowych oraz badania aparatury.

Zawartość obejmuje tworzenie schematów kontrolnych dla wzorców i narzędzi pomiarowych, a także opisuje, jak radzić sobie z niepewnością pomiarów i jak wyznaczać te niepewności. Czytelnik znajdzie tu również informacje o wstępnym opracowaniu wyników kalibracji oraz procedurach oceny charakterystyk różnorodnych błędów. Istotna część książki poświęcona jest analizie metod pomiarowych, badaniom międzylaboratoryjnym oraz komputeryzacji procedur kalibracji, co ułatwia działanie laboratorium.

W książce znajdziemy również wskazówki dotyczące weryfikacji metod badania oraz wzorcowania, jak i informacje na temat roli laboratoriów akredytowanych. Poruszono także kwestie prawnej kontroli metrologicznej i oceny zgodności, prezentując jako przykład księgę jakości spełniającą normę PN-EN ISO/IEC 17025:2005. W porównaniu z wcześniejszym wydaniem, wielu rozdziałom nadano nowe brzmienie, uwzględniając najnowsze osiągnięcia w polu kwantowego systemu SI oraz nowe kierunki dotyczące kwantowych etalonów.

Aktualizacje przepisów prawnych oraz norm były znaczące, zwłaszcza w kontekście badania biegłości laboratoriów wzorcujących, które podlegają obecnie bardziej restrykcyjnym regulacjom. Publikacja została przygotowana z myślą o studentach kierunków związanych z fizyką, chemią oraz politechnik, a także o pracownikach naukowych i inżynierach zajmujących się projektowaniem i stosowaniem aparatury pomiarowej w różnych dziedzinach nauki i technologii.